當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > > 光學(xué)膜厚儀 > FR-portable便攜式光學(xué)膜厚儀
簡(jiǎn)要描述:品牌:希臘ThetaMetrisis名詞:膜厚儀 膜厚儀、測(cè)厚儀、干涉儀、厚度測(cè)量?jī)x干涉儀是利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過(guò)的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起,所以通過(guò)干涉條紋的移動(dòng)變化可測(cè)量幾何長(zhǎng)度或折射率的微小改變量,從而測(cè)得與此有關(guān)的其他物理量。
產(chǎn)品分類(lèi)
詳細(xì)介紹
便攜式膜厚儀主要由以下系統(tǒng)組成: Α白熾-LED混合集成式光源系統(tǒng),通過(guò)內(nèi)嵌式微處理器控制,使用壽命超過(guò)20000小時(shí)。 小型光譜儀,光譜范圍370nm –1050nm,分辨精度可達(dá)3648像素, 16位級(jí) A/D 分辨精度;配有USB通訊接口; Β) FR-Monitor膜厚測(cè)試軟件系統(tǒng), 可精確計(jì)算如下參數(shù): 1)單一或堆積膜層的厚度; 2)靜態(tài)或動(dòng)態(tài)模式下,單一膜層的折射率;本軟件包含了類(lèi)型豐富的材料折射率數(shù)據(jù)庫(kù),可以有效地協(xié)助用戶進(jìn)行線下或者在線測(cè)試分析。本系統(tǒng)可支持吸收率,透射率和反射率的測(cè)量,還提供任何堆積膜層的理論性反射光譜,一次使用授權(quán),即可安裝在任何其他電腦上作膜厚測(cè)試后的結(jié)果分析使用。 C) 參考樣片: a) 經(jīng)校準(zhǔn)過(guò)的反射標(biāo)準(zhǔn)硅片; b) 經(jīng)校準(zhǔn)過(guò)的帶有SiO2/Si 特征區(qū)域的樣片; c) 經(jīng)校準(zhǔn)過(guò)的帶有Si3N4/SiO2/Si特征區(qū)域的樣片; D) 反射探針臺(tái)和樣片夾具 可處理大的樣品尺寸達(dá)200mm, 包含不規(guī)則的尺寸等; 手動(dòng)調(diào)節(jié)可測(cè)量高度可達(dá)50mm; 可針對(duì)更大尺寸訂制樣片夾具; Ε) 反射率測(cè)量的光學(xué)探針 內(nèi)嵌系統(tǒng)6組透射光探針200μm, 1組反射光探針200μm; F) 附件 FR-portable透射率測(cè)量套件;
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